Allani, S.; Jupe, A.; Utz, Alexander; Schaal, C.; Rustom, A.; Kappert, H.; Vogt, H.:
Penetrating Nanoelectrodes for an Electrical Cell Interface on CMOS ASIC
In: Mikro-Nano-Integration : Beiträge des 7. GMM-Workshops, 22.-23. Oktober 2018 in Dortmund / VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (Hrsg.). - 7. GMM-Workshop; Dortmund, Germany; 22.10.-23.10.2018 - Berlin: VDE Verlag, 2018 - (GMM-Fachbericht ; 92), S. 7 - 12
2018Aufsatz (Konferenz) in Tagungsband
Fakultät für Informations-, Medien- und Elektrotechnik » Institut für Angewandte Optik und Elektronik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Penetrating Nanoelectrodes for an Electrical Cell Interface on CMOS ASIC
Autor*in:
Allani, S.;Jupe, A.;Utz, AlexanderTH Köln
DHSB-ID
THK0067439
ORCID
0000-0002-1274-4563ORCID iD
SCOPUS
41961590500
Sonstiges
der TH Köln zugeordnete Person
;Schaal, C.;Rustom, A.;Kappert, H.;Vogt, H.
Erscheinungsjahr:
2018
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Mikro-Nano-Integration : Beiträge des 7. GMM-Workshops, 22.-23. Oktober 2018 in Dortmund
Konferenz
7. GMM-Workshop; Dortmund, Germany; 22.10.-23.10.2018
Herausgeber*in:
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik
Erscheinungsort:
Berlin
Verlag:
VDE Verlag
Erscheinungsjahr:
2018
in:
S. 7 - 12
ISBN
978-1-5231-2672-9
ISBN
978-3-8007-4789-4
URN
urn:nbn:de:101:1-2022101316294094595160
In Serie
GMM-Fachbericht
in:
Band 92
Ressourcentyp:
Text
Access Rights:
nur Zugriff auf Metadaten
Praxispartner*in:
Nein
Kategorie:
Forschung
Teil der Statistik:
Nicht Teil der Statistik