Bohne, David; Wagner, Valentin; Deck, Patrick; Dick, Christian:
Loss Characterization Methodology for Soft Magnetic Nano-Crystalline Tape Materials in Coupled Inductors
In: 24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe - 24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe; Hanover, Germany; 05.09.-09.09.2022 - Piscataway, NJ: IEEE, 2022
2022Aufsatz (Konferenz) in Tagungsband
Fakultät für Informations-, Medien- und Elektrotechnik » Institut für Automatisierungstechnik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Loss Characterization Methodology for Soft Magnetic Nano-Crystalline Tape Materials in Coupled Inductors
Autor*in:
Bohne, DavidTH Köln
DHSB-ID
THK0018567
SCOPUS
33967547900
SCOPUS
58321511600
Sonstiges
der TH Köln zugeordnete Person
;Wagner, ValentinTH Köln
DHSB-ID
THK0018492
SCOPUS
57958635900
Sonstiges
der TH Köln zugeordnete Person
;Deck, PatrickTH Köln
DHSB-ID
THK0001920
SCOPUS
56337968100
Sonstiges
der TH Köln zugeordnete Person
;Dick, ChristianTH Köln
DHSB-ID
THK0001976
ORCID
0009-0006-0401-1710ORCID iD
SCOPUS
15829007100
SCOPUS
58586454100
Sonstiges
der TH Köln zugeordnete Person
Erscheinungsjahr:
2022
Scopus ID
85141589063
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe
Titel (abgekürzt):
European Conf. Power Electron. Appl., EPE ECCE Europe
Konferenz
24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe; Hanover, Germany; 05.09.-09.09.2022
Verlag, Verleger*in:
IEEE
Erscheinungsort:
Piscataway, NJ
Verlag:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2022
ISBN
978-90-75815-39-9
ISBN
978-1-66548-700-9
Sprache des Textes:
Englisch
Ressourcentyp:
Text
Praxispartner*in:
Nein
Kategorie:
Forschung
Teil der Statistik:
Nicht Teil der Statistik
Schlagwort, Thema:
coupled inductors ; four-wire measurement ; loss characterization ; soft magnetic material ; two-winding
Ressourcentyp:
Text
Praxispartner*in:
Nein
Kategorie:
Forschung
Teil der Statistik:
Teil der Statistik